Plateforme NANOCOM

La plateforme est adossée au laboratoire de l'Intégration du matériau au système (IMS)

Présentation

NANOCOM est une plateforme de l'IMS dédiée à la caractérisation électrique de composants et de circuits intégrés en technologies silicium (CMOS SOI, BiCMOS SiGe …) ou III-V (InP, AsGa…).

Elle est située dans le bâtiment principal de l’IMS (Bat A31) et  s’étend sur plus de 200m². Cette plateforme instrumentale s’est développée autour des besoins de la recherche au Laboratoire IMS et de ses partenaires, dans les domaines de la modélisation des composants, de l’extraction de leurs paramètres et de la conception de circuits intégrés radiofréquences et hyperfréquences.

Activité

Modalités d'accès

Pour toute demande, veuillez contacter Magali De Matos

Tutelles et partenariat

Université de Bordeaux, CNRSCentre national de la recherche scientifique , Bordeaux INP

Mise à jour le 17/09/2019

Contact

Magali De Matos
Responsable

IMS - Bâtiment A31
351 cours de la Libération
33405 Talence cedex

05 40 00 83 92
Contacter par courriel